ELECTRONICS 断面研磨・平面研磨・平行研磨観察 特定した半導体不具合箇所の断面観察をするため、切断機・研磨機を用いて 断面・平面方向から研磨を行い、不具合箇所の状態を観察して解析します。 イオンミリング加工も可能です。 一つ前のページに戻る
