信頼性／製品認定試験一覧
- 高温保存試験(HTST)
- 高温動作寿命試験 (HTOL)
- 高温高湿(TH)
- 高温高湿通電試験(THB)
- 温湿度サイクル試験(TH Cycle)
- イオンマイグレーション試験
- パワーサイクル試験（PWC）
- 断続通電試験 (IOL)
- パワーサイクル試験（PCT）
- パワ-デバイスアナライザ（静特性）
- 温度サイクル試験(TC)
- パワー温度サイクル試験(PTC)
- 接合信頼性試験 (BLR)
- 液槽冷熱衝撃試験 (TS)
- 半田耐熱性試験(MS-Level)
- 高温高湿バイアス超加速試験(HAST)
- 高温高湿超加速試験 ・Autoclave (uHAST)
- ESD試験(MM・HBM）
- ESD試験(CDM)
- ESD試験(Latch-up)
高温保存試験(HTST)／高温動作寿命試験 (HTOL)
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ESPEC
PH-202(M),PHH-200 他
室温+20～300℃
600x600x600mm
高温高湿(TH)／高温高湿通電試験(THB)／温湿度サイクル試験(TH Cycle)／
イオンマイグレーション試験
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ESPEC
PSL-4J,PL-4J 他
-70～100℃ 20～98%RH
1000x800x1000mm 
パワーサイクル試験（PWC）／断続通電試験 (IOL)
デンケン製パワーサイクル試験機
最大電流：2400A（800A×3）
チャンネル数：12ch（6×2）
試験サンプル数の多いAEC-Q101規格の対応もお任せください！
パワー温度サイクル試験(PCT)
シーメンス社製パワーテスター
最大電流: 3600 A (600 A×6)
チャンネル数: 24 ch (6×4)
1号機: 導入済み
2号機，3号機: 2025年夏頃導入予定
JEDEC規格で推奨されているTj測定方法に対応し、過渡熱抵抗測定によって
リアルタイムでの劣化診断が可能
パワ-デバイスアナライザ（静特性）
最大3 kV/1500 Aの広い動作範囲,自動化された高速温度テスト(-50 °C～+250 °C)データシートの自動作成、入力/出力/逆伝達キャパシタンス(Ciss、Coss、Crss、Cies、Coes、Cres)及びゲート抵抗(Rg)を測定可能(3 kV),ゲート電荷(Qg)曲線測定
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温度サイクル試験(TC)／パワー温度サイクル試験(PTC)／接合信頼性試験 (BLR)
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ESPEC
TSA-(203,201,71)ES-W,TCC-150W 他
70～0℃,+60～+200℃
650x670x460mm 
液槽冷熱衝撃試験 (TS)
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ESPEC
TSB-51
65～0℃,+70～+200℃
150x200x150mm 
高温高湿バイアス超加速試験(HAST)／高温高湿超加速試験 ・Autoclave (uHAST)
ESPEC
TPC-411D,EHS-221MD 他
105～142.9℃,75～100%rh
29.5φx300mm
半田耐熱性試験(MS-Level)
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TAMURA
TNR15-225LH 
ESD試験(MM・HBM）
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阪和電子工業
HED-S5256A
リーク電流測定機能付き
最大印加電圧±8000V 
ESD試験(CDM)
阪和電子工業
HED-C5002
湿度調整機能付き
最大印加電圧±4000V
ESD試験(Latch-up)
阪和電子工業
HLT-1024LT
高温試験可
1024端子,7電源 Max100V
