ELECTRONICS
非破壊検査（X線検査／SAT検査）
X線検査
線検査装置を用いて、電子部品の内部構造に対する品質保証検査をおこないます。
検査対象
- ワイヤーオープン/ショート
- リードショート
- ダイアタッチ材濡れ量
SAT検査
超音波深焦装置(SAT装置)を用いて、X線検査と同様に電子部品の内部構造に対する品質保証検査をおこないます。
検査対象
- 剥離
- ボイド
- チップクラック
