ELECTRONICS
JEDEC
JESD47 Device qualification tests
試験項目 | 参照規格 |
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高温動作寿命(HTOL) | JESD22 A108 JESD85 |
初期故障率(ELFR) | JESD22 A108 JESD74 |
低温動作試験(LTOL) | JESD22 A108 |
高温保管試験(HTSL) | JESD22 A103 |
ラッチアップ | JESD78 |
高温保管試験 | JESD22 A103 |
ESD HBM (人体モデル) | JS-001 |
ESD CDM (デバイス帯電モデル) | JS-002 |
JESD47 Qualification tests for components in nonhermetic packages
試験項目 | 参照規格 |
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前処理SMD only Moisture Preconditioning | JESD22 A113 |
高温保管試験(HTSL) | JESD22 A103&A113 |
高温高湿バイアス試験(THB) | JESD22 A101 |
高温高湿バイアス 超加速寿命試験(HAST) | JESD22 A110 |
温度サイクル試験(TC) | JESD22 A104 |
高温高湿超加速試験(uHAST) | JESD22 A118 |
オートクレーブ (AC) | JESD22 A102 |
はんだボールシェア(SBS) | JESD22 B117 |
ボンド引張試験(BPS) | M2011 |
ボールシェア(BS) | JESD22 B116 |
はんだ濡れ性試験 | M2003 J-STD-002 |
スズホイスカー試験 | JESD22 A121 |
JESD47 Qualification test for components in hermetic packages
試験項目 | 参照規格 |
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温度サイクル試験(TC) | JESD22 A104 |
ボンド引張試験(BPS) | M2011 |
ボールシェア(BS) | JESD22 B116 |
はんだ濡れ性試験 | M2003 J-STD-002 |
はんだボールシェア(SBS) | JESD22 B117 |
衝撃試験 | JESD22 B104 |
振動試験 | JESD22 B103 |
定加速度試験 | MIL-STD-883 Method 2001 |
外観 | 顧客仕様 |
外形寸法 | 顧客仕様 |
スズホイスカー試験 | JESD22 A121 |