半導体設備関連
主な開発実績
- カスタムICハンドラ
- 自動外観検査装置
- レーザーダイオード特性検査装置
- レンズ組立装置
- 工程間移載装置
- OSテスター
半導体レーザ測定機 DKLDC-3500


対象パッケージ | CANパッケージ φ3.3~φ11.4までの実績有り |
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対象波長 | 400nm~1000nm |
検査項目 | I-L(Pulse)測定 ※オプション I-L(CW)測定 LD逆電流、リーク電流測定 FFP測定 偏光測定 波長測定 |
測定部スペック | 電流測定レンジ:0~±1000mA 電圧測定レンジ:0~±8V 光出力測定レンジ:0~1000mW モニタPD測定レンジ:0~±5mA |
サイクルタイム | 2.5秒 ※測定パラメータに依存 |
分類数 | 良品4分類(MAX)、不良品 |
供給・分類方式 | トレイ方式 供給トレイチェンジャー×1 分類トレイチェンジャー×1 供給トレイ平置き×3 NG BOX×1 |
ユーティリティ | AC 200V(単相) 3kVA(MAX) 50/60Hz ドライエア 0.49MPa |
装置外形 | W1400×D1100×H1750mm(突起部を除く) |
重量 | 約800kg |
半導体関連事業では、半導体部品及び電子部品の組立、検査工程における自動化設備をご提供しています。
お客様からのニーズを聞き取り、そのニーズに合った設備開発を行います。これまでに培ってきた技術ノウハウを設備開発に活かし、大手企業様へ数多くの設備導入実績があります。
弊社は設計から製作まで一括管理という特長があり、よりお客様と近い目線でモノづくりを行います。とりわけ搬送技術と測定技術には、絶大な信頼を頂いております。
IC-PKGの搬送検査装置、大規模LSI・レーザーダイオードの搬送検査装置、液晶ガラスパネルの搬送装置など、数々の実績でお客様のご要求にお応え致します。