半導体設備関連

半導体レーザ測定機

 半導体関連事業では、半導体部品及び電子部品の組立、検査工程における自動化設備をご提供しています。

 お客様からのニーズを聞き取り、そのニーズに合った設備開発を行います。これまでに培ってきた技術ノウハウを設備開発に活かし、大手企業様へ数多くの設備導入実績があります。

 弊社は設計から製作まで一括管理という特長があり、よりお客様と近い目線でモノづくりを行います。とりわけ搬送技術と測定技術には、絶大な信頼を頂いております。

 IC-PKGの搬送検査装置、大規模LSI・レーザーダイオードの搬送検査装置、液晶ガラスパネルの搬送装置など、数々の実績でお客様のご要求にお応え致します。

主な開発実績

半導体レーザ測定機 DKLDC-3500

主な仕様
対象パッケージ CANパッケージ
φ3.3~φ11.4までの実績有り
対象波長 400nm~1000nm
検査項目 I-L(Pulse)測定 ※オプション
I-L(CW)測定
LD逆電流、リーク電流測定
FFP測定
偏光測定
波長測定
測定部スペック 電流測定レンジ:0~±1000mA
電圧測定レンジ:0~±8V
光出力測定レンジ:0~1000mW
モニタPD測定レンジ:0~±5mA
サイクルタイム 2.5秒
※測定パラメータに依存
分類数 良品4分類(MAX)、不良品
供給・分類方式 トレイ方式
供給トレイチェンジャー×1
分類トレイチェンジャー×1
供給トレイ平置き×3
NG BOX×1
ユーティリティ AC 200V(単相) 3kVA(MAX) 50/60Hz
ドライエア 0.49MPa
装置外形 W1400×D1100×H1750mm(突起部を除く)
重量 約800kg

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