新規設備導入とそれに伴う建屋増設表明のため大分県庁を訪問、佐藤県知事、杵築市の永松市長へ事業内容の説明を行いました。

今回導入するのは、透過型電子顕微鏡（TEM）と集束イオンビーム（FIB）で、半導体最先端プロセスの微細構造(原子レベル)がよりクリアな解像度で観察可能となります。

新規設備は2025年度の早期稼働を目指し、次世代半導体の開発に貢献して参ります。

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