エレクトロニクス事業部 解析 破壊・非破壊問わず幅広い解析手法を用いて、半導体の不具合や不良に関する調査・解析をサポート致します。 様々なお客様のご要望に経験豊富な担当技術者が対応させて頂きます。ご提供致します。 サービス一覧 断面FIB解析 詳しく見る STEM解析 詳しく見る FIB回路修正 詳しく見る 断面/平面研磨観察 詳しく見る 開封観察/剥離解析 詳しく見る 電気特性解析 詳しく見る OBIRCH・EMISSION解析 詳しく見る 非破壊検査(X線検査/SAT検査) 詳しく見る 一覧に戻る